2月9日，由第三代半導體產業技術創新戰略聯盟標準化委員會主辦，泰克科技（中國）有限公司、忱芯科技（上海）有限公司協辦的第三代半導體標準與檢測研討會在蘇州金雞湖凱賓斯基大酒店成功舉辦。來自第三代半導體及相關領域的知名專家學者、企業代表100余人參會。

    研討會旨在推動器件、測試、應用等領域的技術融合，加快相關技術成果產業化，完善相應標準化體系，促進細分應用領域產業鏈上下游合作交流。會議由工業和信息化部電子第五研究所研究員、聯盟標委會副主任來萍和浙江大學教授、聯盟標委會副主任吳新科共同主持。

    會上，參會人員與報告嘉賓積互動，加強了SiC/GaN電力電子計量、檢測、標準、器件、應用等領域的跨界交流。本次會議推動并形成了檢測共性問題與技術解決方案的產業共識，推進產業化應用進程，支撐新興市場發展。

    -----文章轉自CASA-----